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材料科技研究中心
儀器介紹

1.高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 (High Resolution Field-Emission Scanning Electron Microscope

廠牌與型號 :JEOL JSM-6500F

主要規格:解像力:1.5 nm @15KV ; 加速電壓: 0~30 KV ; 放大倍率: 10x~500K x ; 二次電子成像(SEI) 背散射電子成像(BSI) ; 附屬設備:能量分散光譜儀(EDS) ; 電子背向散射繞射儀(EBSP)

 

2.熱燈絲式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope)

廠牌與型號 :JEOL JSM-6390LV

主要規格:解像力:3 nm @30KV ; 加速電壓: 0~30 KV ; 放大倍率: 25x~300K x ; 二次電子成像(SEI) 背散射電子成像(BSI) ; 附屬設備:能量分散光譜儀(EDS)